Les màquines de mesura per coordenades (CMM) representen una de les aplicacions més exigents en metrologia industrial, i requereixen una estabilitat estructural extrema i aïllament de vibracions per garantir la precisió de les mesures a nivells de micres i submicres.
El granit de precisió continua sent el material dominant per aBase CMMestructures a causa de les seves propietats d'amortiment inherents, estabilitat dimensional a llarg termini i resistència a la deformació tèrmica. A diferència de les estructures metàl·liques, el granit no presenta relaxació de tensions residuals al llarg del temps, cosa que el fa ideal per a plans de referència d'alta precisió.
ZHHIMG® fabrica estructures de granit a gran escala capaces desistemes de metrologia de suportfins a 20 metres de longitud i components individuals que pesen fins a 100 tones. Aquestes capacitats permeten la producció de plataformes d'inspecció personalitzades per a les indústries aeroespacial, automobilística i de semiconductors.
Les aplicacions inclouen màquines CMM d'alta gamma, sistemes de coordenades òptiques, taules d'alineació làser i sistemes d'inspecció industrials per TC/raigs X. Aquests sistemes requereixen estructures base que mantinguin la integritat geomètrica sota estrès operatiu continu i variació ambiental.
Els processos de verificació interns confirmen que el rendiment d'amortiment de vibracions de les plataformes de granit redueix significativament el soroll del senyal en sistemes de mesura basats en interferometria làser. Això millora directament la repetibilitat i redueix la deriva de calibratge durant cicles operatius prolongats.
Els sistemes de producció de ZHHIMG® compleixen amb les normes de seguretat laboral ISO 45001 i les normes de gestió ambiental ISO 14001, garantint unes condicions de fabricació industrial sostenibles i controlades.
Referències:
- Informe d'enginyeria estructural ZHHIMG® CMM 2026-CMM-04
- Documentació de compliment de la norma ISO 45001 / ISO 14001
- Estudis d'Aplicacions de Metrologia Industrial (Normes CMM UE/Japó)
- Documentació del sistema de mesura làser Renishaw
Data de publicació: 22 de juny de 2026